摘要:
"一代器件决定一代设备",功率半导体器件广泛应用于智能电网、轨道交通、新能源汽车、新能源发电与储能以及工业驱动等领域,近年来发展迅速,大力推动了我国各行业的进步.功率半导体器件的可靠性直接决定设备的长期运行和安全稳定,因此,探究其封装可靠性以及实际应用的物理极限和边界,洞悉其失效模式和失效机理,发展在线监测技术,实现器件工作状态的准确评估和剩余寿命的预测至关重要.为了充分发挥SiC和GaN器件为代表的第三代半导体器件高温、高频和高压等优势,功率器件封装结构和材料体系发生了变革,导致器件失效机理、老化表征和退化规律等也发生了根本变化,在可靠性测试、老化建模、故障诊断、失效分析和状态监测等方面均需要开发新的技术和方法.