关键词:
低功耗
One-Wire
寄生供电
系统级芯片
结构性测试
摘要:
在物联网、智能家居、便携式设备等领域中关于芯片低功耗问题的解决方案是所有技术开发人员不断追求的目标。因此,本文提出一种应用于系统级芯片(System on Chip,So C)的新型外围串行传输总线方案,以实现降低通信功耗、提高通信速率、节约接口资源并减少芯片面积的设计目标。One-Wire总线是一种外围串行扩展总线技术,仅用单一信号线就可以实现既传输时钟又传输数据且支持半双工的通信功能,该总线传输协议的特性可使处于从模式下的设备实现寄生供电功能。本文将该总线技术应用于超低功耗So C芯片中,并对其接口功能做出进一步的优化和完善,使得最终的接口控制器具有更高的兼容性、更低的通信功耗并大幅度提高了接口的通信性能。本文着重论述超低功耗So C中One-Wire总线接口控制器的实现过程。首先,介绍了实现低功耗设计的重要性并对比了目前国内外可实现寄生供电功能的总线技术。其次,介绍One-Wire总线寄生供电的特点并对电源和数据采用同一电缆进行通信的几种方式的优缺点进行了具体的分析并详尽剖析了One-Wire协议的规范。接着,说明了运用Verilog HDL完成该接口控制器的RTL级设计的实现方案。随后,阐明了对设计模块的各个功能进行RTL级验证、Post_Layout级验证、现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)验证以及成测的过程。本设计基于HW_Embedded NORD Flash Low Power工艺实现,芯片面积约为1000μm×1000μm,最终的验证和测试结果表明,本文所设计的One-Wire总线接口控制器能够实现预期的各项功能。本文的贡献点如下:为提高One-Wire总线接口控制器功能的兼容性及可移植性,使芯片的应用环境更加灵活,本文的设计增加了主模式功能的硬件逻辑电路,相比于以往仅依靠软件实现主模式功能的方式,该功能的实现可以更加便捷高效地控制电路并降低了主设备的动态功耗;考虑到实现可测试性设计对芯片进行结构性测试,为避免扫描链数据在串行移位时触发One-Wire接口PAD中上下拉信号及上下拉使能信号而导致芯片在结构性测试过程中出现由过渡延迟时间引起的亚稳态,影响结构性测试结果的准确性,在设计中采用了测试模式屏蔽技术设计方案,阻碍了结构性测试对PAD内部信号的干扰,提高了芯片测试的准确性。为降低One-Wire总线接口控制器及该So C的动态功耗,在接口设计中增加了自检测通信状态功能,若在开启接口通信功能后的一段时间内无通信,接口控制器及芯片将自动进入低功耗休眠模式,并可通过该接口IO自动唤醒低功耗状态,该设计可实现灵活控制芯片工作状态,使芯片的功耗得以进一步的降低;与此同时,为降低So C的动态功耗,并提高One-Wire总线接口控制器对数据的搬运能力以及接口功能的兼容性,本文所设计的One-Wire总线接口控制器增加了对专用RAM的访问接口,在对算法模块的数据进行搬运时,避免了持续访问CPU,在降低CPU工作频率的同时提高了数据传输的灵活性,经成品测试表明,若开启该功能可将芯片总功耗降低20%左右。