关键词:
逐次逼近寄存器模拟数字转换器
采样热噪声
电容失配校正
比较器
残差放大器
摘要:
模拟数字转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)在电子系统中起着关键作用,连接着物理世界和数字电路。其中,逐次逼近寄存器(Successive Approximation Register,SAR)ADC因其简单、低功耗的特性,在低功耗应用中领先于其他类型的ADC。随着半导体工艺进步,传统的纯模拟电路设计面临挑战,而SAR ADC因其简单的数字化结构,在先进半导体工艺中表现突出。移动设备对低功耗的需求使得对SAR ADC的研究变得尤为迫切,因为其直接影响续航时间和用户体验。
随着各行业对ADC精度要求的提高,高精度ADC的研究变得至关重要。传统的结构包括流水线(Pipeline)和过采样(Oversampling),但过采样整形ADC无法满足需要快速量化响应的应用场景,而且需要额外的抽取滤波器。SAR ADC和Pipeline SAR ADC是常用的结构,具有低功耗和高精度等优势,且适合多通道复用。本课题旨在探索高精度Pipeline SAR ADC和SAR ADC的设计方法,以支持工业控制、仪器仪表和医疗器械等领域的需求。
本文重点研究了SAR ADC和Pipeline SAR ADC的电路设计和架构,探讨了低功耗低噪声比较器和残差放大器设计、采样热噪声以及电容失配的校正等主要问题。在研究背景和意义介绍后,概述了模数转换器的基础知识,着重解释了SAR ADC和Pipeline SAR ADC的结构、工作原理、性能指标以及常见的非理想因素。针对这些问题,详细介绍了比较器优化、级间放大器设计和电容失配校正等关键技术。基于传统结构和技术,本文提出了以下方法以提升SAR ADC和Pipeline SAR ADC的性能和能效:
(1)增益提升和亚稳态概率降低的压控振荡器(Voltage-Controlled Oscillator,VCO)比较器:通过电流复用技术,在相同能耗下增大了压控振荡器的电压到时间的增益,从而在不增加额外功耗的情况下提升了比较速度和噪声性能。此外,通过鉴相器内部的反馈调整死区大小,成功降低了压控振荡器比较器遇到亚稳态的概率。
(2)结合压控延迟线(Voltage-Controlled Delay Line,VCDL)的动态偏置比较器:通过在传统动态偏置比较器前加上压控延迟线作为比较器的第一级,将输入电压转换成时域信号,并将动态偏置放大器的输入共模提升到电源电压。提升了动态偏置放大器的速度,同时保留了其动态偏置特性,有利于提升噪声性能和降低功耗。这一方法实现了更好的速度-噪声-功耗之间的平衡关系。
(3)结合自适应延迟线的低噪声浮动反相放大器比较器:所提出的比较器对传统基于浮动反相放大器的设计进行了改进。首先,引入了自适应延迟线来控制锁存器级的导通,以便在小幅输入信号下增加延迟,从而提高预放大器的增益,减少锁存器级的等效输入参考噪声,从而降低比较器整体输入参考噪声。其次,在预放大器级内部引入了内嵌正反馈,以加快预放大器的放电速度并增强输出增益。
(4)采用可切换延迟控制信号和预复位机制的14位,50 MS/s SAR ADC设计:这项设计在上述第(3)点中提到的比较器基础上进行了改进。该结构引入了可切换延迟,将SAR ADC的前九个周期设置为高速比较模式。这一模式的实现方式是通过可切换延迟控制,同时导通比较器的预放大器和锁存器,以牺牲噪声性能来提高速度。在剩余的量化周期中,将比较器切换到低噪声模式,通过自适应延迟降低噪声,从而提高SAR ADC的整体噪声性能。为了进一步提高速度,采用了预复位机制,提前对比较器进行复位,减少了比较器复位所需的时间,减少了时间开销。
(5)开关电容放大技术的线性度提升与噪声降低:该设计结合了相关电压移位(CLS)和噪声带宽切换,实现了等效开环增益的提升和等效输出噪声的降低。相较于传统的方案,这一设计将SFDR性能从51 d B提升至88 d B,输出噪声则从583.3V降低至450.8V。
(6)信号带宽提升和线性度改善的采样热噪声消除技术:该技术采用微分电路补偿路径,解决了传统采样热噪声消除技术在高频输入信号下放大器输出饱和的问题,从而提升了系统的带宽和线性度。仿真结果显示,当输入频率约为5MHz时,该结构的无杂散动态范围(SFDR)从83.1 d B提升至117.7 d B,同时将总等效输入噪声(包括采样热噪声和残差放大器噪声)从113V降低至39.8V。
(7)18位4 MS/s Pipeline SAR ADC的设计,包含输入信号不相关的电容失配校正方案:本设计采用了电容阵列拆分、交换和重新组合的方法,并结合微扰注入,利用分裂式(Split)ADC结构,实现了对电容失配的后台输入信号不相关的校正。此外,采用双权重值对参考电压偏差