关键词:
模数转换器
逐次逼近型
分段电容阵列
自校准技术
摘要:
模数转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)作为连接模拟信号和数字信号的桥梁,在各种电子系统中发挥着重要的作用。和几种传统架构的ADC相比,逐次逼近型(Successive Approximation Register,SAR)ADC具有功耗低和面积小的优势,随着集成电路先进工艺的不断发展,其采样速度和精度有了更大的提升空间,使得SAR ADC在中等速度、中高等精度领域中受到了广泛的研究。其中对于高精度低功耗SAR ADC,被广泛应用于精密数据采集系统、仪器仪表以及医疗设备等领域,但由于制造工艺造成电容失配,会严重限制ADC的精度,因此研究校准技术对SAR ADC精度的提升具有重要意义。本论文基于0.35μm CMOS工艺,设计了一款18位的高精度低功耗SAR ADC电路,重点对高精度SAR ADC的关键子模块电路的设计进行了深入分析和研究。对于电容型数模转换器(DAC)的设计,为满足18位量化精度的要求,基于分段电容阵列原理和冗余技术原理的分析,采用“11+7”的分段结构,有效节省DAC的面积和功耗,并加入了三位冗余电容,为SAR ADC的比较过程提供容错空间。以及结合本论文采用的自校准算法,将全差分电容阵列中负端的低位段电容用作校准DAC,使得电容阵列DAC变成伪差分结构,并设计了一种采用单调开关和传统开关相结合的混合开关切换方式。为满足比较器的精度和速度的要求,设计了一种四级预放大器加锁存器级联结构的比较器,对比较器电路进行仿真,得到预放大器的整体增益为67.7 d B,带宽为12.2 MHz,比较器的等效输入噪声为13.5μV。针对电容失配对SAR ADC精度的限制,本论文设计了一种基于自校准的模拟校准技术,即利用伪差分结构的DAC电容阵列负端的低位电容校正高位电容的失配,和传统自校准的SAR ADC对比,不需要额外的电容阵列作校准DAC,有效的节约了芯片面积和功耗,并基于MATLAB工具搭建校准算法模型,进行行为级仿真验证了校准算法。最后对18位SAR ADC的整体电路进行了前仿真分析,以及版图设计和后仿真分析。后仿真结果表明,在典型工艺角下,ADC的有效位数为16.7位,SFDR为109.2 d B,SNDR为102.6 d B,功耗为25 m W。