关键词:
数字信号合成与采集
模块化仪器
数字测试
多通道
精密延时
摘要:
数字技术的迅速进步推动了电子信息行业的蓬勃发展,随之而来的是在复杂数字电路系统的研发与验证过程中,需要使用功能多样的数字测试设备进行各种阶段性测试,以确保系统的有效性与准确性。传统的数字测试仪器存在着体积较大、测试通道少、功能单调匮乏等诸多不足之处,无法胜任现代化数字测试领域的复杂测试任务。针对上述问题,同时结合课题具体需求,本文提出设计一种基于FPGA的多通道数字测试模块。该测试模块基于模块化仪器的思想,在体积有限的板卡上集成了多种数字信号发生和采集功能,能够为数字电路系统提供完备的功能和参数测试。本文的主要研究内容包括:
1、数字测试信号合成方法的研究。本研究对比分析了不同数字测试信号合成技术,深入探讨了这些技术的优势与局限。通过引入一种高度灵活的数据块编辑机制,将码型数据内容划分为序列参数信息和序列数据信息分别存储,合成了可编辑长度远大于存储深度的自定义码型序列。通过对时间信息的有效数字化编码,并利用FPGA内置GT高速收发器将低速并行数据转换成高速串行数据,实现了高分辨率数字-时间脉冲序列的合成。
2、多通道数字测试模块硬件电路设计。通过分析功能指标,制订模块整体硬件设计方案,并在此基础上进一步细分为不同的功能电路。针对整体时钟需求,采用分段分频处理的方法设计时钟电路。基于延时范围和分辨率指标要求,采用粗调+细调相结合的延时电路设计方案,实现了对输出信号的精密可控延时。采用基于引脚驱动器的非线性调理的设计方案,实现了对数字信号输出电压的有效调节。
3、数字测试信号合成与采集时序逻辑设计。针对所采用的不同数字测试信号合成方法,合理利用FPGA内部资源,完成了自定义编辑码型序列、协议码型序列、伪随机码型序列、数字-时间脉冲序列的时序逻辑设计。同时通过采用多相时钟并行采样技术,实现了对数字信号的有效采集。
通过对上述关键内容的深入研究,本文成功完成了多通道数字测试模块设计与实现。最后通过测试和验证,所设计的数字测试模块拥有16个双向测试通道,能够模拟多种数字测试信号合成与采集。数据率可在1kbps~100Mbps内动态调节,分辨率为1kbps,输出电压可在-1.5V~+5V内动态调节,分辨率为10m V,且不同通道间具备0~10μs的精密延时输出,延时分辨率可达20ps。