关键词:
PCB缺陷
BiFormer注意力机制
MPDIoU损失函数
上采样算子CARAFE
目标检测
摘要:
在PCB缺陷检测领域中检测精度的提高一直是1个具有挑战性的任务。为了解决这个问题,提出一系列基于PCB缺陷检测的改进方法。首先,引入一种新的注意力机制,即BiFormer注意力机制,这种机制利用双层路由实现动态的稀疏注意力,从而减少计算量;其次,采用一种创新的上采样算子CARAFE,能够结合语义信息与内容信息进行上采样,使得上采样过程更加全面且高效;最后,基于MPDIoU度量采用一种新的损失函数,即LMPDIoU损失函数,能够有效地处理不平衡类别、小目标和密集性问题,从而进一步提高图像检测的性能。实验结果表明,所提改进后的模型在平均精度均值(mAP)方面取得了显著提高,达到了93.91%,与原YOLOv5模型相比提高了13.12个百分点,同时,在识别精度方面,所提改进后的模型表现也非常出色,达到了90.55%,与原YOLOv5模型相比提高了8.74个百分点。引入BiFormer注意力机制、CARAFE上采样算子以及LMPDIoU损失函数,对于提高PCB缺陷检测的精度和效率具有非常积极的作用,为工业检测领域的研究提供了有价值的参考。