关键词:
YOLOv8
电子元器件
特征融合
可变形卷积
损失函数
摘要:
针对PCB表面电子元器件尺寸跨度大、种类多样、小尺寸元器件特征相似等检测难题,本文以YOLOv8算法为基线模型,提出一种DCW-YOLOv8算法.首先在C2f模块中嵌入可变形卷积DCNv2,扩大感受野,更好地提取不同尺寸、不同形状的电子元器件特征;其次设计了C-PANet颈部网络结构,该结构引入CARAFE上采样算子,同时构建跨尺度特征拼接通道,兼顾特征细节信息与特征感受范围,提高特征融合能力;最后将WIoU作为边界框损失函数,提高模型对电子元器件的定位精度与收敛速度.实验结果表明,DCW-YOLOv8算法在自建PCB电子元器件数据集检测中mAP@0.5达到94.7%,相比于YOLOv8n提升2.1%,并且计算量仅为8.1GFLOPs,保证了检测效率与精度.