关键词:
发育迟缓/智力障碍
核心家系全外显子组检测
遗传检测
基因变异
摘要:
目的采用基于全外显子组测序的单核苷酸变异(SNV)/小插入缺失(InDel)和拷贝数变异(CNV)家系分析(Trios-WES)提高发育迟缓/智力障碍(DD/ID)诊断能力。方法纳入2017年3月1日—2019年3月31日期间,就诊于上海市儿童医院高危儿整合门诊及康复科门诊,经Gesell、WPPSI-Ⅳ或WISC-Ⅳ评估非外在因素引起、常规遗传检测为阴性、原因不明的58例DD/ID患儿,采用Trios-WES技术分析,对所发现基因变异进一步进行表型与Sanger测序验证,统计与分析结果。结果58例原因不明的DD/ID患儿,经Trios-WES分析,发现41个DD/ID相关的基因变异,其中13个首次报道。33个基因变异(33/58,56.9%)经验证为致病性单基因或多基因变异,包括3例CNV变异和1例父源单亲二倍体;含10个错义突变,7个剪切突变,7个移码突变,5个无义突变;新发变异占所有致病变异的79%;其中MECP2、TCF4、SYNGAP1、UBE3A、SHANK3基因变异高频出现。结论采用Trios-WES临床遗传检测策略,可提高不明原因DD/ID患儿的诊断率,为其进一步治疗及遗传咨询提供依据。